• <menu id="sicak"><strong id="sicak"></strong></menu>
  • 有源芯片

     仕佳光子新增特色服務—測試與可靠性業務為了方便閱讀,給您做了目錄指引:

    【01】工藝監控

    【02】性能評估

    【03】可靠性測試

    01

    工藝監控

                                         

                                                  樣

                                                 2~6wafer  

                                                 最5mm*5mm

                                                 測

                                                 光

                                                 測: 

                                                 532nm980nm

                                        波600~1700nm

     

                                    X

                                       

                                       2~6wafer

                                       最10mm*10mm

                                       測

                                       搖ω/2θ

                                       測:

                                       三3.6"

     

                                      

                               

    樣品類型:

    最小尺寸10mm*10mm

    測試項目:

    電阻率、載流子濃度、遷移率

    測試特點:

    常溫測試、77K測試(液氮溫度)

    載流子濃度:10^7~10^21cm^-3

    遷移率:1~10^7cm^2/V/S

                             C-V

                                     樣品類型:

                                     最小尺寸12mm*12mm

                                     測試項目:

                                     載流子濃度

                                     測試特點:

                                     載流子濃度1^13~1^20cm^-3,

                                     腐蝕深度50nm~20μm

                              原子力顯微鏡-AFM

                                  樣品尺寸:

                                  直徑≤150mm

                                  測試項目:

                                  表面粗糙度、臺階測量

                                  測試特點:

                                  最大臺階測量高度≤10μm;

                                  臺階測量高度誤差±1nm

                            掃描電子顯微鏡-SEM

                                 樣品尺寸:

                                 直徑≤50mm

                                 測試項目:

                                 表面結構和組分對比

                                 測試特點:

                                 最大分辨率 1.0nm;

                                 放大倍數10x~1,000,000x

                           橢偏儀

                               樣品尺寸:

                               直徑≤200mm

                      測試項目:

             薄膜厚度、折射率

    測試特點:

    波長范圍300nm~1800nm;

    厚度誤差±2nm;

    折射率誤差±0.001

           

    臺階儀

    樣品尺寸:

    直徑≤150mm

    測試項目:

    臺階測量

    測試特點:

    最大臺階高度≤327μm;

    精度±4nm

    分光光度計

    樣品尺寸:

    最小尺寸12mm*18mm;

    最大尺寸100mm*80mm;

    測試項目:

    薄膜透射率和反射率

    測試特點:

    波長范圍400nm~3000nm;

    精度誤差0.2%

                                                                                        02

    性能評估

                                                                       

                                                                                           

            樣品封裝類型-介紹

            為方便芯片測試,需要將芯片封裝為不同的類型:

                            ?我司可提供所有的封裝代工服務。

     

    非零延時自外差線寬測試

    樣品類型:

    TOSA、蝶形

    測試項目:

    利用非零延時自外差法測量激光器線寬

    測試特點:

    用聲光移頻器移頻

    頻譜儀可測頻率范圍10Hz-44GHz

    最佳激光器線寬測試能力<10KHz

    可測激光器波長范圍:1540~1560nm

     洛倫茲線寬測試

    樣品類型:

    TOSA、蝶形

    測試項目:

    以功率譜密度形式測量光頻率噪聲

    提取白噪聲、分析洛倫茲線寬

    測試特點:

    光頻率噪聲可測到20MHz

    可測激光器波長范圍:

    1260~1360nm、1520~1625nm

    RIN測試

    樣品類型:

    COC、TOSA、蝶形

    測試項目:

    測試RIN值

    測試張弛振蕩頻率

    測試特點:

    可測激光器波長范圍:1265nm-1625nm

    可測頻率范圍:100MHz-26.5GHz

    輸入功率高達7dB,改善測量信噪比

    RIN測量值可低至-167dB/Hz

    頻率穩定性測試

    樣品類型:

    TOSA、蝶形

    測試項目:

    測量信號的頻率相位抖動等

    測試特點:

    具有59GHz實時帶寬

    采樣率160GSa/s(2通道),采樣率80GSa/s(4通道)

    高達2Gpts的深存儲器捕獲更多數據

                              常規LIV測試

                 

    樣品類型:  

    COC、TO、TOSA、蝶形

    測試項目:

    用來測試大功率半導體激光器的光電性能參數和LIV性能曲線,可計算閾值電流Ith、指定電流Io下的發光功率Pf、正向電壓Vf等參數

    測試特點:

    最大輸出電流:脈沖模式30A,連續模式3A

    脈寬最小可設到1μs

    占空比最大1%

    PD響應波長范圍 800~1700nm

           光譜測試

    樣品類型:

    COC、TO、TOSA、蝶形

    測試項目:

    測量連續和脈沖電流模式下激光器的光譜,可計算中心波長、邊模抑制比、譜寬等參數

    測試特點:

    可測激光器波長范圍:600-1700nm

    分辨率最小可設到0.02nm

    S參數測試

    樣品類型:

    COC、蝶形

    測試項目:

    可測試3dB帶寬、相位、反射系數、電壓駐波比、群時延

    測試特點:

    10MHz-67GHz測試范圍,可測試激光器、調制器、探測器以及無源產品

    1dB壓縮點測試

    樣品類型:

    COC、蝶形

    測試項目:

    可測試產品射頻功率輸入輸出線性度

    測試特點:

    微波源頻率可達44GHz

    頻譜儀頻率10MHz-44GHz

    二次諧波抑制比測試

     

    樣品類型:

    COC、蝶形

    測試項目:

    測試產品的諧波產物,評估產品的非線性及失真指標

    測試特點:

    微波源頻率可達44GHz

    頻譜儀頻率10MHz-44GHz

    三階交調測試

    樣品類型:

    COC、蝶形

    測試項目:

    測試三階交調產物,衡量產品線性度

    測試特點:

    微波源頻率可達44GHz

    頻譜儀頻率10MHz-44GHz

           鏈路噪聲系數測試

    樣品類型:

    7PIN蝶形、BOX

    測試項目:

    測量大功率激光器或者常規激光器鏈路噪聲系數

    測試特點:

    可測頻率范圍最高可達26.5GHz

    靈敏度測試

     

    樣品類型:

    ROSA 、BOX

    測試項目:

    靈敏度測試

    測試特點:

    頻率范圍2.5-32GHz

                                                                                                                                                       

                                                                                                 03

    可靠性測試

    腔體式TO試驗箱

    樣品類型:

    TO

    測試項目:

    TO封裝的激光器進行Burn-in和加速老化試驗

    測試特點:

    上下箱體溫度分別設定;互不干擾;

    溫度范圍:RT+25~150℃;

    各個老化板電流分別控制,電流范圍0~200mA;

    定時記錄各通道背光電流值。

    抽屜式TO試驗箱

    樣品類型:

    TO

    測試項目:

    TO封裝的激光器進行Burn-in和加速老化試驗

    測試特點:

    具有ACC和APC模式;

    各盒內溫度分別設定,互不干擾;

    溫度范圍:RT+25~150℃;

    各老化盒電流分別控制,電流范圍0~300mA;

    定時記錄各通道背光電流值。

    抽屜式COC試驗箱

    樣品類型:

    COC

    測試項目:

    COC封裝的激光器進行Burn-in和加速老化試驗

    測試特點:

    具有ACC和APC模式;

    各盒內溫度分別設定;互不干擾;

    溫度范圍:RT+25~150℃;

    各老化盒電流分別控制,電流范圍0~500mA;

    定時記錄各通道前光功率值。

    抽屜式COC試驗箱

    樣品類型:

    COC

    測試項目:

    COC封裝的激光器進行Burn-in和加速老化試驗

    測試特點:

    兼容直流輸出和脈沖輸出模式;

    各盒內溫度分別設定,溫度范圍:RT+ 25~120℃;

    CW:0~2A;

    QCW:0~3A,脈寬1us~20us,占空0.01%~10%;

    定時記錄各通道前光功率值。

    高溫高濕加電試驗箱

    樣品類型:

    TO

    測試項目:

    TO封裝的激光器濕熱環境帶電老化試驗

    測試特點:

    箱體溫度設定范圍:-40℃~150℃;

    箱體濕度設定范圍:0%~98%RH

    各個老化板電流分別控制,電流范圍0~200mA;

    定時記錄各通道背光電流值。

    抽屜式TO試驗箱

    樣品類型:

    TO

    測試項目:

    TO封裝的激光器進行Burn-in和加速老化試驗。

    測試特點:

    具有ACC和APC模式;

    各抽屜溫度分別設定,溫度范圍:RT+45~120℃;

    各老化抽屜電流分別控制,電流范圍0~1A;

    定時記錄各通道背光電流值

    抽屜式COC試驗箱

    樣品類型:

    COC

    測試項目:

    COC封裝的激光器進行Burn-in和加速老化試驗。

    測試特點:

    各抽屜溫度分別設定,溫度范圍:RT+45~120℃;

    各老化抽屜電流分別控制,電流范圍0~6A;

    定時記錄各通道前光功率值。

    高壓加速老化試驗機

    樣品類型:

    適用于多種產品類型

    測試項目:

    用于產品研發設計階段工藝快速驗證

    測試特點:

    溫度:+100 ℃~+132 ℃(飽和蒸氣溫度);

    壓力:0.120~0.289Mpa;

    濕度:100%RH,不可調。

    HAST高壓加速老化試驗機

    樣品類型:

    適用于多種產品類型

    測試項目:

    用于產品研發設計階段工藝快速驗證

    測試特點:

    溫度:+100 ℃~+147℃;

    壓力:0.120~0.289Mpa;

    濕度:70-100%RH,可調。

    可程式恒溫恒濕箱

    樣品類型:

    適用于多種產品類型

    測試項目:

    用于產品常規可靠性試驗,驗證產品在高低溫交變環境下性能

    測試特點:

    溫度:-70 ℃~+150℃;

    濕度:20-98%RH;

    電熱鼓風干燥箱

    樣品類型:

    適用于多種產品類型

    測試項目:

    用于產品常規可靠性試驗,驗證產品在高溫環境下性能

    測試特點:

    溫度:室溫+10 ℃~+200℃。

    靜電放電發生器

    樣品類型:

    Chip、TO

    測試項目:

    半導體激光器、器件進行靜電抗擾度測試

    測試特點:

    放電模式:HBM人體靜電放電模型;

    放電網絡:1500Ω/100pF;

    最大靜電電壓:±8.000kV。

    LC310液相色譜儀

    樣品類型:

    物料鄰苯四項的含量

    測試項目:

    用于物料Rohs2.0檢測

    測試特點:

    可用于檢測物料中鄰苯二甲酸二異丁酯(DIBP)、鄰苯二甲酸(2-乙基己基酯)(DEHP)、鄰苯二甲酸二丁酯(DBP)鄰苯二甲酸丁芐酯(BBP)含量。

    丝瓜视频